Nanoanalytik in der Praxis: Nano- und Mikrobereichsanalyse von Oberflächen und Materialien
Veranstaltung
- Titel:
- Nanoanalytik in der Praxis: Nano- und Mikrobereichsanalyse von Oberflächen und Materialien
- Wann:
- Di, 10. November 2009 - Mi, 11. November 2009
- Wo:
- Regensburg - Regensburg
- Kategorie:
- Info extern
Beschreibung
Nanoanalytik in der Praxis:
Nano- und Mikrobereichsanalyse von Oberflächen und Materialien
Das Portfolio der analytischen Techniken und die Nanometer-Dimension werden kontinuierlich erweitert und erschlossen.
Hier erfahren Sie alles über neuere nano- und oberflächenanalytische Methoden:
Analytische Techniken
- Rasterelektronenmikroskopie (REM)
- Photoelektronenmikroskopie (XPS, ESCA)
- Rasterkraftmikroskopie (AFM, SXM)
- Sekundärionenmassenspektrometrie ((ToF-)SIMS)
- Ionenstreuungsspektroskopie (ISS, LEIS)
Anwendungsbereiche
- Produktentwicklung
- Produktions- und Qualitätskontrolle
- Fehleranalytik
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